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本发明提供用于检测靶物质的分析装置、分析方法和用于这些分析装置及分析方法的器件。本发明的目的涉及以高对比度来检测靶物质。本发明涉及在使用透光性的基板和引起等离子体共振的金属的靶物质分析中，设计与基板形成界面、折射率比基板低且存在开口部的低折...
该专利属于株式会社日立高新技术所有，仅供学习研究参考，未经过株式会社日立高新技术授权不得商用。

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