下载用于芯片检测的中转测试装置的技术资料

文档序号:26207979

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本实用新型属于芯片检测辅助结构领域,具体涉及用于芯片检测的中转测试装置,包括用于设置在PCB主板上方的治具底板、若干垂直设置于治具底板的固定探针、固定设置于治具底板上方且用于保护若干固定探针的治具护板,治具护板上表面用于放置待测芯片,固定探...
该专利属于苏州市科林源电子有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过苏州市科林源电子有限公司授权不得商用。

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