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本发明公开的一种测量和记录透明制件光学缺陷的方法，是在透明制件的周边固持一用来确定缺陷尺寸的标尺；将摄像机、透明制件和参照物三者可移动地固定在同一直线的位置上，透明制件放置在摄像机和参照物之间；摄像机透过透明制件对焦在参照物上，对带有网格图...
该专利属于成都飞机工业（集团）有限责任公司所有，仅供学习研究参考，未经过成都飞机工业（集团）有限责任公司授权不得商用。

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