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容易检出隔膜上形成的微小缺损，特别是凹部。进行检出隔膜(1)的缺损的针对隔膜(1)的耐电压检查，隔膜(1)为在基材的至少一个面上形成功能层而成。...
该专利属于住友化学株式会社所有，仅供学习研究参考，未经过住友化学株式会社授权不得商用。

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