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本发明公开了一种弹坑超敏感产品生产参数优化方法，该方法通过将产品生产过程中的各个参数加大，进行弹坑的验证，当在该工艺参数生产下的芯片不会产生弹坑时，认定该参数为生产芯片的工艺参数，同时对生产机器进行验证。通过本发明的方法设计产品的生产过程各...
该专利属于华天科技(西安)有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过华天科技(西安)有限公司授权不得商用。

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