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本发明公开了一种印花织物疵点检测方法，首先将待检测的印花织物疵点图像缩放，然后将缩放后的印花织物疵点图像做显著性检测，得到印花织物疵点显著性图像；将得到的印花织物疵点显著性图像进行大津阈值二值化处理；处理后的二值图作为mask掩码图，确定待...
该专利属于西安工程大学所有，仅供学习研究参考，未经过西安工程大学授权不得商用。

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