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本实用新型是粉体技术或颗粒技术领域里利用图像沉降法测量颗粒粒度的装置，该装置在光源的正前方安装一个产生平行光的凸透镜，由原来的一个光电传感器，发展成由１０２４－４０９６个光电二极管图像传感器，经信号放大电路和Ａ／Ｄ图像板及计算机处理，能够解...
该专利属于中国科学院化工冶金所所有，仅供学习研究参考，未经过中国科学院化工冶金所授权不得商用。

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