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本发明公开了一种基于激光超声成像的粗糙部件缺陷尺寸精确测量方法，该方法为：扫描获得表面波时域信号组；提取无缺陷区域表面波信号作为基准信号；以基准信号最大波幅位置所在时刻为基准绘制二维彩色图；初步识别缺陷影像并设置缺陷评定框；将评定框内所有信...
该专利属于武汉大学所有，仅供学习研究参考，未经过武汉大学授权不得商用。

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