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本发明涉及一种电卡性能测试系统，包括放置待测试样的控温封闭箱体、与待测试样相连接的测温单元及高压调节单元，以及与控温封闭箱体相连通的真空单元；其中高压调节单元与待测试样之间还设有热绝缘样品夹具。与现有技术相比，本发明通过热绝缘样品夹具使待测...
该专利属于同济大学所有，仅供学习研究参考，未经过同济大学授权不得商用。

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