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本发明涉及一种用于检测物体(202)中的缺陷(209)的方法(1)和装置，包括以下步骤：(i)使用至少一个光源(201)照射所述物体(202)，其中来自所述光源(201)的光在所述物体(202)内透反射，导致从所述物体(202)的亚表面(2...
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