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本发明涉及一种荧光成像装置及其成像方法，本发明装置包括至少一激光器、分光装置、流动室、第一探测单元及荧光成像单元；第一探测单元包括第一探测器，第一探测器用于检测所述第一散射光信号的第一部分，以识别颗粒的特征；荧光成像单元用于分析第二照明光路...
该专利属于洹仪科技(上海)有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过洹仪科技(上海)有限公司授权不得商用。

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