一种荧光成像装置及其成像方法制造方法及图纸

技术编号:26167795 阅读:37 留言:0更新日期:2020-10-31 13:23
本发明专利技术涉及一种荧光成像装置及其成像方法,本发明专利技术装置包括至少一激光器、分光装置、流动室、第一探测单元及荧光成像单元;第一探测单元包括第一探测器,第一探测器用于检测所述第一散射光信号的第一部分,以识别颗粒的特征;荧光成像单元用于分析第二照明光路的散射光信号和荧光探测信号,荧光成像单元包括第二探测器,第二探测器用于检测所述第二散射光信号和第二荧光探测信号,以进行成像分析。本发明专利技术可有效解决现有技术中细胞成像分析效率低的问题,通过增加荧光成像光路系统可以获取颗粒图像,同时还能识别颗粒的特征信息,将能量探测与成像分析相结合,使分析方式多元化,且分析分选颗粒的速度快、效率高,使得颗粒分选的准确性也大大提高。

【技术实现步骤摘要】
一种荧光成像装置及其成像方法
本专利技术涉及光学分析领域,尤其涉及一种荧光成像装置及其成像方法。
技术介绍
由于不同的细胞成分能被激发的荧光波长、能量不同,不同形貌的细胞被激发的能量也不同,现有的流式细胞分析装置通过获取细胞的荧光能量判断细胞成分,再根据大量细胞的成分统计来分选细胞,通过激光器照射被充电偏转的液滴,并通过探测器检测液滴中的荧光信号,若充电延时不准确,则在非分选通道可以检测到荧光信号,因此需要调整充电延时,使所有荧光信号均出现在分选通道。但是利用传统的方法来调整充电延需要多次测量才能获得准确的充电延时时间,其耗费时间长,操作不方便,效率低。
技术实现思路
针对上述现有技术的缺点,本专利技术的目的是提供一种荧光成像装置及其成像方法。相对于现有技术来说,本专利技术可以实现自动调整充电延时,有效提高了分选效率。为实现上述目的,本专利技术的技术方案如下:一种荧光成像装置,所述装置包括至少一激光器、分光装置、流动室、第一探测单元及荧光成像单元;所述激光器用于发射至少一种激光;<br>所述分光装置用本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种荧光成像装置,其特征在于:所述装置包括至少一激光器(101)、分光装置(103)、流动室(114)、第一探测单元及荧光成像单元;/n所述激光器(101)用于发射至少一种激光;/n所述分光装置(103)用于将所述激光器(101)发射的激光分散为第一照明光路和第二照明光路,所述第一照明光路和第二照明光路分别照射至所述流动室(114);/n所述流动室(114)用于限制所述颗粒的流动,第一照明光路和第二照明光路照射经过流动室(114)的液流产生第一照射光斑和第二照射光斑,所述颗粒经过所述第一照射光斑产生第一光信号,所述颗粒经过第二照射光斑产生第二光信号,所述第一光信号包括第一散射光信号和第一荧...

【技术特征摘要】
1.一种荧光成像装置,其特征在于:所述装置包括至少一激光器(101)、分光装置(103)、流动室(114)、第一探测单元及荧光成像单元;
所述激光器(101)用于发射至少一种激光;
所述分光装置(103)用于将所述激光器(101)发射的激光分散为第一照明光路和第二照明光路,所述第一照明光路和第二照明光路分别照射至所述流动室(114);
所述流动室(114)用于限制所述颗粒的流动,第一照明光路和第二照明光路照射经过流动室(114)的液流产生第一照射光斑和第二照射光斑,所述颗粒经过所述第一照射光斑产生第一光信号,所述颗粒经过第二照射光斑产生第二光信号,所述第一光信号包括第一散射光信号和第一荧光探测信号,所述第二光信号包括第二散射光信号和第二荧光探测信号;
所述第一探测单元用于分析第一照明光路的散射光信号,所述第一探测单元包括第一探测器(108),所述第一探测器(108)用于检测所述第一散射光信号的第一部分,以识别颗粒的特征;
所述荧光成像单元用于分析第二照明光路的散射光信号和荧光探测信号,所述荧光成像单元包括第二探测器(110),所述第二探测器(110)用于检测所述第二散射光信号和第二荧光探测信号,以进行成像分析。


2.如权利要求1所述的一种荧光成像装置,其特征在于:所述第一探测单元还包括第三探测器(111),所述第三探测器(111)用于检测所述第一散射光信号的第二部分和荧光探测信号,以识别颗粒的特征。


3.如权利要求1所述的一种荧光成像装置,其特征在于:还包括第一反射装置(104),所述第一反射装置(104)设置于所述分光装置(103)的一侧,所述第一反射装置(104)的角度可调,以用于调节所述第二照明照明光路在所述流动室(114)的位置。


4.如权利要求1所述的一种荧光成像装置,其特征在于:所述荧光成像装置还包括荧光成像光路系统,所述荧光成像光路系统用于获取颗粒图像;所述荧光成像光路系统包括第六镜头(305)及第四探测器(306),所述第六镜头(305)用于将颗粒二次成像,所述第四探测器(306)用于对所述二次成...

【专利技术属性】
技术研发人员:裴万生
申请(专利权)人:洹仪科技上海有限公司
类型:发明
国别省市:上海;31

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