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一种对组合样品的结构和成分进行测量分析的装置，其特征为：包括Ｘ射线源（１）、Ｘ射线透镜（３）、样品台（７）及其控制电路、能量探测器（９）及其测量电路、计算机（１２）、仪器平台（１３）；计算机通过连线分别与样品台及其控制电路、能量探测器及其测...
该专利属于中国科学技术大学所有，仅供学习研究参考，未经过中国科学技术大学授权不得商用。

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