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本实用新型公开了一种利用热电法测定半导体P、N型的装置，属于检测装置技术领域，包括电流计、加热器，电流计通过导线(4)与半导体试件(3)相连，加热器设于半导体试件(3)的一端，加热器包括与底板(1)相贴的加热片(2)，半导体试件(3)的一端...
该专利属于台州学院所有，仅供学习研究参考，未经过台州学院授权不得商用。

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