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本申请涉及一种可移动式加热老化设备，属于半导体老化测试设备技术领域，包括：测试单元，其包括移动箱体及安装在所述移动箱体内的测试核心板和老化测试板，所述测试核心板与老化测试板电连接；温控单元，其包括保温罩壳及加热器，所述保温罩壳罩设在移动箱体...该专利属于武汉精鸿电子技术有限公司;武汉精测电子集团股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过武汉精鸿电子技术有限公司;武汉精测电子集团股份有限公司授权不得商用。