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用CX-1发射剂实现单铼带直接测定Nd+的钕同位素分析新方法技术
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文档序号:2603647
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将不含贵金属发射剂和样品液依次滴加在单铼带的同一位置上,使样品在电离过程中Nd↑[+]比NdO↑[+]的产额提高4-5个数量级,从而实现在质谱仪器上用单铼带直接测定Nd↑[+],以确定样品中Nd的准确含量与同位素比值。本发明用于地质年代学中...
该专利属于中国科学院地球化学研究所所有,仅供学习研究参考,未经过中国科学院地球化学研究所授权不得商用。
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