下载一种多通道并行测试校准方法的技术资料

文档序号:25958081

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本发明公开了一种多通道并行测试校准方法,步骤包括信号分配和系统校准,所述信号分配包括信号分配及校准子卡选择高稳定度、低相噪恒温晶振作为时钟源,产生系统所需的100MHz参考时钟,经过高品质时钟驱动器分配输出;经分配而来的工作时钟,经过时钟驱...
该专利属于中国电子科技集团公司第十四研究所所有,仅供学习研究参考,未经过中国电子科技集团公司第十四研究所授权不得商用。

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