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本发明是一种对组合样品的结构和成分进行测量分析的方法及装置，它涉及利用Ｘ射线衍射、Ｘ射线荧光技术对结构和成分进行测量分析的方法及装置。Ｘ射线源１、Ｘ射线透镜３、样品台７及其控制电路、能量探测器９及其测量电路等均置于仪器平台１３上，Ｘ射线源与...
该专利属于中国科学技术大学所有，仅供学习研究参考，未经过中国科学技术大学授权不得商用。

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