专利查询
首页
专利评估
登录
注册
当前位置:
首页
>
专利查询
>
兰道克斯实验有限公司
>
校准微阵列制造技术
>技术资料下载
下载校准微阵列的技术资料
文档序号:2591534
温馨提示:您尚未登录,请点
登陆
后下载,如果您还没有账户请点
注册
,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。
一种用于测定样品中的第一分析物含量的分析方法,包括以下步骤:(i)使样品与含有一个或多个第一反应位点和系列第二反应位点的装置接触,其中所述第一反应位点含有对第一分析物具有亲和力的第一配体,所述系列第二反应位点含有各种已知浓度的固定化的第二分...
该专利属于兰道克斯实验有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过兰道克斯实验有限公司授权不得商用。
详细技术文档下载地址
温馨提示:您尚未登录,请点
登陆
后下载,如果您还没有账户请点
注册
,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。