温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。

本发明的课题在于提供一种荧光Ｘ射线分析装置，该荧光Ｘ射线分析装置对处于惰性气体气氛中的试样进行分析，分光室不由惰性气体置换即可，同时不与试样室连通，并且可获得足够的强度的２次Ｘ射线，另外，隔壁的寿命延长。该装置包括接纳有试样（４）的试样室（...
该专利属于株式会社理学所有，仅供学习研究参考，未经过株式会社理学授权不得商用。

详细技术文档下载地址

温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。