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一种高密度光栅偏振相关自成像的探测方法和装置，本发明方法的核心是利用一片１／４波片和一片偏振片精确控制入射光的偏振态，将光栅放在微动平台上，精确控制其位置，然后用纳米开口的光纤扫描不同偏振入射光下的泰伯像，再由计算机进行数据处理，即可获得高...
该专利属于中国科学院上海光学精密机械研究所所有，仅供学习研究参考，未经过中国科学院上海光学精密机械研究所授权不得商用。

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