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铁电晶体表面电畴结构无损检测静电微粒显示剂及其检测方法技术
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文档序号:2585101
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本发明是一种用于铁电晶体表面电畴结构检测的静电微粒显示剂及其检测方法。显示剂,由纳米微粒、分散剂、电荷控制剂和稳定剂组成,静电微粒为纳米尺寸的有机、无机固体颗粒;分散剂是有机溶液;电荷控制剂是有机两亲化合物,其溶解在分散剂中可以控制纳米微粒...
该专利属于南京大学所有,仅供学习研究参考,未经过南京大学授权不得商用。
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