铁电晶体表面电畴结构无损检测静电微粒显示剂及其检测方法技术

本发明专利技术是一种用于铁电晶体表面电畴结构检测的静电微粒显示剂及其检测方法。显示剂，由纳米微粒、分散剂、电荷控制剂和稳定剂组成，静电微粒为纳米尺寸的有机、无机固体颗粒；分散剂是有机溶液；电荷控制剂是有机两亲化合物，其溶解在分散剂中可以控制纳米微粒表面的电荷性质；它们的组成是（ｗｔ％）显示颗粒：０．０２％～０．２％、分散剂：９３．７％～９９．７％、电荷控制剂：０．２％～４％、稳定剂：０．５％～２．５％。检测方法是将所述静电微粒显示剂涂覆于所要观测的铁电晶体表面，并对铁电晶体表面加温。加热使静电微粒显示剂挥发干燥使静电微粒在相应电畴区域形成选择性沉积而产生显示图案，从而显示正负电畴结构组态。

【技术实现步骤摘要】

【技术保护点】
一种用于铁电晶体表面电畴结构检测的静电微粒显示剂，由纳米微粒、分散剂、电荷控制剂和稳定剂组成，其特征是：静电微粒为纳米尺寸的有机、无机固体颗粒；分散剂是有机溶液；电荷控制剂是有机两亲化合物，其溶解在分散剂中可以控制纳米微粒表面的电荷性质；稳定剂是高分子化合物，它们的组成是（Ｗｔ％）：显示颗粒：０．０２％～０．２％分散剂：９３．７％～９９．７％电荷控制剂：０．２％～４％稳定剂：０．５％～２．５％。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：祁鸣，柯常，王继扬，刘宏，
申请(专利权)人：南京大学，
类型：发明
国别省市：84[中国|南京]