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在用于在样品表面处产生和检测荧光的设备中，该设备高于该样品表面的高度减小，并且由于反射损耗和光散射而导致的所发射的荧光的损耗被最小化。该设备包括三维弯曲的光反射表面（４０），其横向于来自光源（３２）的光的原始路径而引导该光，并且将该光聚焦到...
该专利属于帕瑞萨森思公司所有，仅供学习研究参考，未经过帕瑞萨森思公司授权不得商用。

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