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用于在半导体加工系统中检测目标气体物质的装置和方法制造方法及图纸
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下载用于在半导体加工系统中检测目标气体物质的装置和方法的技术资料
文档序号:2583668
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本发明涉及一种用于检测目标气体物质的气体检测器和方法,该气体物质如在包含含氟物质的气体中的含氟物质,例如,经受HF、NF↓[3]等蚀刻清洗的半导体加工工具的排放物。一方面,气体检测器采用对含氟物质敏感的含镍丝,其可以起传感部件的作用以及当需...
该专利属于高级技术材料公司所有,仅供学习研究参考,未经过高级技术材料公司授权不得商用。
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