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本公开提供了一种电路老化时序分析方法，包括：S1，获取电路中同构路径；S2，对同构路径进行分析，以获得同构路径的工作状态；S3，获得工作状态对延时的影响大小，并根据影响大小对同构路径按预设规则进行排序；S4，对部分同构路径进行时序分析，对另...
该专利属于中国科学院微电子研究所所有，仅供学习研究参考，未经过中国科学院微电子研究所授权不得商用。

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