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本发明公开了一种模组的缺陷检测方法及系统，其通过点亮待检测模组使其显示预设的灰阶画面，开启模组检测设备的侧光源以获取第一检测画面，通过第一检测画面中的发暗缺陷实现盖板玻璃内的异物缺陷的检测，在背光和侧光的共同作用下，通过L128和Parti...该专利属于武汉精立电子技术有限公司;武汉精测电子集团股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过武汉精立电子技术有限公司;武汉精测电子集团股份有限公司授权不得商用。