一种模组的缺陷检测方法及系统技术方案

本发明专利技术公开了一种模组的缺陷检测方法及系统，其通过点亮待检测模组使其显示预设的灰阶画面，开启模组检测设备的侧光源以获取第一检测画面，通过第一检测画面中的发暗缺陷实现盖板玻璃内的异物缺陷的检测，在背光和侧光的共同作用下，通过L128和Particle画面结合，来针对盖板下异物和盖板上异物进行准确的分类，从而有利于后续的缺陷判别与输出。

【技术实现步骤摘要】
一种模组的缺陷检测方法及系统
本专利技术属于模组检测领域，具体涉及一种模组的缺陷检测方法及系统。
技术介绍
随着越来越多厂牌推出触控手机、触控平板电脑和触控车载显示屏等新产品，对该类产品的检测需求也越来越多。在显示面板上加入CoverGlass（盖板玻璃）时可能会有灰尘进入；粘合显示面板与盖板时，会有粘合剂溢出进入显示区域，这些工艺上的问题都会降低产品的质量，厂商要求把这些作为缺陷检出。通常进行AOI检测，面板表面灰尘会在white、R/G/B、L48、L0这些画面发暗，然后通过Particle画面（即只打侧光的画面）打亮上表面异物来进行灰尘过滤减少过检，但是CoverGlass下的灰尘和残胶在white、R/G/B、L48、L0这些画面也是发暗的，在Particle画面也都是发亮的，如果也通过灰尘过滤这种机制将会漏检。其中，红（R）、绿（G）、蓝（B）为三基色，调节范围分别为0-255。分别为RGB设置不同的值可以搭配出不同的画面，R255为单色红且红色的值为255的画面，即RGB(255,0,0)画面；G255为单色绿且绿色的值为2本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种模组的缺陷检测方法，待检测模组包括盖板玻璃，其特征在于，该方法包括：/n点亮待检测模组使其显示预设的灰阶画面，开启模组检测设备的侧光源以获取第一检测画面，将所述第一检测画面中的发暗缺陷判断为盖板玻璃内的异物缺陷。/n

【技术特征摘要】
1.一种模组的缺陷检测方法，待检测模组包括盖板玻璃，其特征在于，该方法包括：
点亮待检测模组使其显示预设的灰阶画面，开启模组检测设备的侧光源以获取第一检测画面，将所述第一检测画面中的发暗缺陷判断为盖板玻璃内的异物缺陷。


2.根据权利要求1所述的一种模组的缺陷检测方法，其中，所述预设的灰阶画面的灰阶值范围为：88~168。


3.根据权利要求1或2所述的一种模组的缺陷检测方法，其中，该方法还包括：
对待检测模组进行多种不同检测画面的缺陷检测，获得第一缺陷集合；
对所述待检测模组进行灰尘检测，对所述第一缺陷集合进行灰尘过滤，获得第二缺陷集合；
保留所述盖板玻璃内的异物缺陷；
对所述第二缺陷集合进行缺陷分类识别，输出识别结果。


4.根据权利要求3所述的一种模组的缺陷检测方法，所述对所述待检测模组进行灰尘检测，对所述第一缺陷集合进行灰尘过滤，获得第二缺陷集合包括：
点亮待检测模组且不开启模组检测设备的侧光源以获取第二检测画面，不点亮待检测模组且开启模组检测设备的侧光源以获取第三检测画面，将第二检测画面中为发暗缺陷且第三检测画面中为发亮缺陷的缺陷判断为所述盖板玻璃上的灰尘缺陷；
从所述第一缺陷集合中去除所述灰尘缺陷，获得第二缺陷集合。


5.根据权利要求4所述的一种模组的缺陷检测方法，其中，该方法还...

【专利技术属性】
技术研发人员：程果，余鑫，
申请(专利权)人：武汉精立电子技术有限公司，武汉精测电子集团股份有限公司，
类型：发明
国别省市：湖北;42