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本发明涉及一种针对大尺寸物体的高精度厚度测量方法及装置，该方法包括采用两组点激光源分别朝被测物体的上、下表面发射斜向的第一激光、斜向的第二激光，进而获取第一激光在被测物体上所对应反射点的第一坐标、第二激光在被测物体上所对应反射点的第二坐标，...该专利属于深圳市兴华炜科技有限公司;苏州光韵达自动化设备有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过深圳市兴华炜科技有限公司;苏州光韵达自动化设备有限公司授权不得商用。