一种针对大尺寸物体的高精度厚度测量方法及装置制造方法及图纸

本发明专利技术涉及一种针对大尺寸物体的高精度厚度测量方法及装置，该方法包括采用两组点激光源分别朝被测物体的上、下表面发射斜向的第一激光、斜向的第二激光，进而获取第一激光在被测物体上所对应反射点的第一坐标、第二激光在被测物体上所对应反射点的第二坐标，以及第一激光与水平面所成夹角θ，进而计算第一坐标与预设定原点的水平偏移量△A，以及第二坐标与预设定原点的水平偏移量△B，即得被测物体的厚度H＝|△A‑△B|*tag(θ)，本方法适用于大平面或超大平面的中心点厚度测量、适用于多种形状的物体、厚度检测不会受到微小翘曲的干扰、无须设置相对测试基准。

【技术实现步骤摘要】
一种针对大尺寸物体的高精度厚度测量方法及装置
本专利技术涉及厚度检测
，更具体地说，涉及一种针对大尺寸物体的高精度厚度测量方法及装置。
技术介绍
生产5G配套产品时，常常会需要在尺寸超过500mmx400mm、厚度为0.12mm-0.15mm的钢片上加工阶梯槽，且阶梯槽深度就是锡膏印刷高度，即阶梯槽的加工品质会直接影响印刷品质。因此，加工时如何准确测量钢片厚度是极为关键的。目前常用方式如下：一是用大型的千分尺进行测量，该方式需要定制量具，被测物品尺寸越大，量具价格越高，且不方便摆放被测物品，所测尺寸不准确；二是借助大理石平台，该方式适用于钢片仅单侧带阶梯槽的情况，不适用于钢片两侧都带有阶梯槽的情况；此外，探针的挤压会造成钢网翘曲，使得所测厚度数据不精准；三是采用侧投影测量方法，该方式要求钢片必须带有开口，不带开口则无法测量。因此，仍需对现有的厚度测量方式做改进，以解决上述不足。
技术实现思路
本专利技术要解决的技术问题在于，针对现有技术的上述缺陷，提供一种针对大尺寸物体的高精度厚度测量方本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种针对大尺寸物体的高精度厚度测量方法，其特征在于，包括如下步骤：/n采用两组点激光源分别朝被测物体的上、下表面发射斜向的第一激光、斜向的第二激光；其中，被测物体不是透明物体，两组点激光源同轴；/n获取第一激光在被测物体上所对应反射点的第一坐标、第二激光在被测物体上所对应反射点的第二坐标，以及第一激光与水平面所成夹角θ；/n计算第一坐标与预设定原点的水平偏移量△A，以及第二坐标与预设定原点的水平偏移量△B；/n被测物体的厚度H＝|△A-△B|*tag(θ)。/n

【技术特征摘要】
1.一种针对大尺寸物体的高精度厚度测量方法，其特征在于，包括如下步骤：
采用两组点激光源分别朝被测物体的上、下表面发射斜向的第一激光、斜向的第二激光；其中，被测物体不是透明物体，两组点激光源同轴；
获取第一激光在被测物体上所对应反射点的第一坐标、第二激光在被测物体上所对应反射点的第二坐标，以及第一激光与水平面所成夹角θ；
计算第一坐标与预设定原点的水平偏移量△A，以及第二坐标与预设定原点的水平偏移量△B；
被测物体的厚度H＝|△A-△B|*tag(θ)。


2.根据权利要求1所述的一种针对大尺寸物体的高精度厚度测量方法，其特征在于，获取坐标的步骤，包括：
采用两组相机分别获取第一激光在被测物体上所对应反射点的第一图像、第二激光在被测物体上所对应反射点的第二图像；其中，两组相机的镜头正对，两组相机均直立放置，两组相机景深重叠部分的高度不小于被测物体加工前的初始厚度；
根据第一图像、第二图像分别获取第一坐标、第二坐标。


3.一种针对大尺寸物体的高精度厚度测量装置，基于权利要求1-2任一所述的一种针对大尺寸物体的高精度厚度测量方法，其特征在于，所述装置包括：
测量时同轴的两组点激光源；两...

【专利技术属性】
技术研发人员：张卫华，周涛，郑孝勇，
申请(专利权)人：深圳市兴华炜科技有限公司，苏州光韵达自动化设备有限公司，
类型：发明
国别省市：广东;44