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一种用于检验物体（１２）的方法（３８）包括：从液晶显示（ＬＣＤ）装置和硅基液晶（ＬＣＯＳ）装置的至少一个中发射（４０）光；相移（４２）从ＬＣＤ装置和ＬＣＯＳ装置的至少一个中发射的光；将相移的光投影（４４）到物体的表面上；利用成像传感器（２４...
该专利属于通用电气公司所有，仅供学习研究参考，未经过通用电气公司授权不得商用。

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