用于检验物体的方法和装置制造方法及图纸

一种用于检验物体（１２）的方法（３８）包括：从液晶显示（ＬＣＤ）装置和硅基液晶（ＬＣＯＳ）装置的至少一个中发射（４０）光；相移（４２）从ＬＣＤ装置和ＬＣＯＳ装置的至少一个中发射的光；将相移的光投影（４４）到物体的表面上；利用成像传感器（２４）接收（４６）从物体表面反射的光；以及分析（５０）由成像传感器接收到的光以便于检验该物体的至少一部分。

【技术实现步骤摘要】

本申请一般而言涉及检验物体，更具体地涉及利用光测量系统检验物体的方法和装置。
技术介绍
例如，有时对物体进行检验来确定物体整体或部分的大小和/或形状，和/或检测物体中的缺陷。例如，对诸如涡轮或压缩机叶片之类的一些燃气涡轮发动机部件进行检验，以检测到可能由振动应力、机械应力和/或热应力引起的对发动机诱发的疲劳裂纹。而且，例如，检验一些燃气涡轮发动机轮叶的形变，例如平台定向、轮廓横截面、沿着层叠(stacking)轴的弯曲和扭曲、厚度、和/或在给定截面上的弦长。随着时间的流逝，继续操作带有许多缺陷的物体可能降低物体的性能和/或导致物体故障，例如因为裂纹在物体上扩散。因此，尽可能早地检测到物体的缺陷可以便于提高物体的性能和/或减少物体故障。为了便于检验物体，至少一些物体是用光测量系统进行检验的，该系统将结构光图案投影到物体表面上。光测量系统对从物体表面反射的结构光图案进行成像，然后分析反射的光图案的形变以计算物体的表面特征。更具体地说，在操作期间，待检验的物体通常被连接到一个测试夹具上，并且被定位在该光测量系统附近。然后触发一个光源，以使所发射的光照亮待检验的物体。然而，生成的物体图像本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种用于检验物体（１２）的方法（３８），所述方法包括：从液晶显示（ＬＣＤ）装置和硅基液晶（ＬＣＯＳ）装置的至少一个中发射（４０）光；相移（４２）从ＬＣＤ装置和ＬＣＯＳ装置的至少一个中发射的光；将相移的光投影（４４）到物体的表面上；利用成像传感器（２４）接收（４６）从物体表面反射的光；以及分析（５０）由成像传感器接收到的光以便于检验该物体的至少一部分。

【技术特征摘要】
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【专利技术属性】
技术研发人员：胡庆英，DW哈米尔顿，KG哈丁，JB洛斯，
申请(专利权)人：通用电气公司，
类型：发明
国别省市：US[美国]