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本发明涉及剪切场下的结合激光光散射和显微镜的原位观测系统，该系统也可用于剪切场下的液晶、乳浊液等体系的研究。该系统包括激光光散射和显微镜系统，两套系统共用在一平台上的一带加热器的样品池，精确可控的剪切场施加装置和全反射镀膜镜。本发明可对被精...
该专利属于中国科学院化学研究所所有，仅供学习研究参考，未经过中国科学院化学研究所授权不得商用。

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