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本发明涉及一种用于PGA封装微波测试夹具的校准件，其封装接口与被测PGA芯片封装接口一致，包括采用TRL去嵌入技术设计的直通校准件、延迟线校准件、短路校准件和开路校准件。这种校准件，结合PGA封装微波测试夹具，实现了校准端面与测试端面的统一...该专利属于深圳赛西信息技术有限公司;中国电子技术标准化研究院所有，仅供学习研究参考，未经过深圳赛西信息技术有限公司;中国电子技术标准化研究院授权不得商用。