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本发明公开一种集成电路老炼方案功能验证装置，该装置结构简单，使用方便，适用于不同封装、不同类型集成电路的老炼试验的方案验证及功能测试。采用老炼转接板、基板与多个集成电路封装夹具板相结合的构造，能够对不同集成电路进行功能试验和方案验证评估。该...
该专利属于西安太乙电子有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过西安太乙电子有限公司授权不得商用。

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