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本发明提供了一种晶片测试电路及应用。其中，一种晶片测试电路，包括USB连接电路、主控芯片电路、闪存接口电路、供电及基准电路、电源管理电路以及电流检测与自恢复电路；本发明还提供了一种应用，包括上述的晶片测试电路，该晶片测试电路用于制作晶片测试...
该专利属于广东长兴半导体科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过广东长兴半导体科技有限公司授权不得商用。

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