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一种微冲击测试设备，用于测量其上受到冲击的微电子样品的冲击特性。该设备包括容纳待测样品的样品架，和冲击装置。冲击装置包括冲击头、支撑部件、至少一个连接元件和第一挠性弹簧。由于第一挠性弹簧牢固地一端连接到支撑部件，另一端连接到连接元件，所以支...
该专利属于新加坡科技研究局;伊利诺斯器械工程公司所有，仅供学习研究参考，未经过新加坡科技研究局;伊利诺斯器械工程公司授权不得商用。

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