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本发明公开了一种存储器老化测试柜，包括柜体、上位机模组、位于所述柜体内的老化板模组和用于驱动所述老化板模组老化存储器的驱动板模组，所述上位机模组设置在所述柜体上，所述驱动板模组分别与所述老化板模组和所述上位机模组电性连接；所述柜体包括盖板、...
该专利属于浙江杭可仪器有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过浙江杭可仪器有限公司授权不得商用。

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