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本发明涉及一种连续锁模近场光腔衰荡光谱分析装置。现有装置采用线型精细腔，光机定位要求高、结构复杂，不能对薄膜、界面等进行测试。本发明将相干光源出射光束分成具有不同偏振特性的两束，一束偏振光经过光学调制与控制构成测量光束，另一束经过频率调控形...
该专利属于杭州电子科技大学所有，仅供学习研究参考，未经过杭州电子科技大学授权不得商用。

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