【技术实现步骤摘要】
本专利技术属于光学
，涉及一种光谱分析装置，特别是一种连 续锁模近场光腔衰荡光谱分析装置。主要用于流体、薄膜、界面、纳米 物质等形态物质的痕量浓度测试。
技术介绍
在环境分析、生命科学、医学医疗、国防安全、先进制造工业等许 多领域存在大量的物质痕量测量需求，并且对痕量物质检测灵敏度的要 求越来越高。腔衰荡光谱分析技术由于具有检测灵敏度高、绝对测量、 选择性好等优点，成为痕量物质测量技术发展趋势之一。腔衰荡光谱分 析技术多用来分析痕量气体浓度和组分，近些年来，研究者也将腔衰荡 光谱分析技术应用于流体物质分析。现有技术中，有一种腔衰荡光谱分析系统(参见美国专利"Cavity ring down arrangement for non-cavity filing samples",专利号US6， 452， 680 Bl)。该腔衰荡光谱分析系统 具有相当的优点，但是，仍然存在一些不足1)该腔衰荡光谱分析系统 中采用线型精细腔结构，激光在高精细度腔内形成光学驻波，导致光强 分布不均，以及光束入射端腔镜的反射光易对激光器产生干扰；2)该测 试系统中，激光与腔耦合效率低...
【技术保护点】
连续锁模近场光腔衰荡光谱分析装置，包括相干光源、入射偏振分光镜、光束调制与控制器、频率调控器、分析控制单元、光学行波高精细度腔、探测偏振分光镜、锁模探测器，信号探测器，其特征在于：光束整形隔离部件、入射偏振分光镜和锁模光束反射镜依次置在相干光源的出射光束光路上，测量光束反射镜设置在入射偏振分光镜的出射ｓ偏振态光束光路上；在测量光束反射镜的反射光路上依次设置有光学行波高精细度腔和探测偏振分光镜；合成偏振分光镜设置在测量光束反射镜和光学行波高精细度腔之间，位于测量光束反射镜的反射光路与锁模光束反射镜的反射光路的交点处，测量光束反射镜的反射光路与锁模光束反射镜的反射光路以合成偏振...
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：高秀敏，王健，
申请(专利权)人：杭州电子科技大学，
类型：发明
国别省市：86[中国|杭州]
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