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本发明可补偿光源发光强度的波动。本发明可利用第１分光部（１２、１３）将光源发出的光进行分光后，将具有特定的波长（λ↓［Ｅｘ］）的激发光入射到样品元件１５。利用第２分光部（１６、１７）将来自样品元件部的光进行分光，并利用荧光检测部１８来测定荧...
该专利属于株式会社岛津制作所所有，仅供学习研究参考，未经过株式会社岛津制作所授权不得商用。

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