荧光分光光度计制造技术

本发明专利技术可补偿光源发光强度的波动。本发明专利技术可利用第１分光部（１２、１３）将光源发出的光进行分光后，将具有特定的波长（λ↓［Ｅｘ］）的激发光入射到样品元件１５。利用第２分光部（１６、１７）将来自样品元件部的光进行分光，并利用荧光检测部１８来测定荧光强度（Ｉ↓［Ｅｍ］）。另一方面，参照光检测部１９检测未经第１分光部选择的光的特定的波长（λ↓［Ｒ］），将由所述参照光检测部检测出的光强度的输出储存于光谱数据储存部２１中。根据光谱数据的激发光波长、参照光波长、参照光强度，算出激发光强度（Ｉ↓［Ｅｘ］）。依据经测定的荧光强度（Ｉ↓［Ｅｍ］）、经算出的激发光强度（Ｉ↓［Ｅｘ］），求得荧光分光光度计的输出。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种以特定的波长光作为激发光来照射样品，并测定样品 发出的荧光的荧光分光光度计。
技术介绍
荧光分光光度计是一种如下的装置使物质吸收光(激发光)而变为 激发状态，并测定从激发状态再回到基态时所发出的光(荧光)，以进行和 样品相关的定性 定量分析。焚光分光光度计在定量的灵敏度 精度方面 优异，且也可用作液相层析仪的检测器。根据图5对普通焚光分光光度计加以说明。光源31发出的光由第1分 光部也就是激发侧分光部(衍射光栅32、狭缝33)进行分光后，将预期的 波长光(激发光)照射到样品元件35中的样品上。照射到样品上的光，使 与其能量相应的样品分子中的 一部分电子得到激发，使样品分子成为激发 状态。从激发状态再回到基态时所发出的光，由第2分光部也就是荧光侧 分光部(衍射光栅36、狭缝37)进行分光后，作为样品荧光的预期的波长 光入Em将到达检测部38。荧光强度取决于激发光的强度，因此激发光强度 的波动会对荧光强度的测定产生大的影响。为了补偿激发光强度的波动，而 于入射到样品元件35前利用分光镜34，使来自激发光侧分光部的激发光 入ex分支，并将其一部分的光作为参照光入k而导入本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种荧光分光光度计，其特征在于其具备：光源；第１分光部，将所述光源发出的光进行分光后，选择预期的波长光；样品元件部，以所述第１分光部选择的所有波长光作为激发光而入射至样品元件部；第２分光部，将来自所述样品元件部的光进行分光；光检测部，检测来自所述第２分光部的光；参照光检测部，检测未经所述第１分光部选择的光；光谱数据储存部，储存由所述参照光检测部检测出的光强度的输出作为光谱数据。

【技术特征摘要】
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【专利技术属性】
技术研发人员：军司昌秀，
申请(专利权)人：株式会社岛津制作所，
类型：发明
国别省市：JP[日本]