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本实用新型涉及一种内存模组测试温度控制装置，包括：测试主板、温控模块、高温盖组件和镂空板，测试主板上插接有多个待测试的内存模组，镂空板设置于测试主板的上方，内存模组的顶端穿出镂空板部分露出于镂空板上方，高温盖组件设置于镂空板的上方，且罩设在...
该专利属于东莞记忆存储科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过东莞记忆存储科技有限公司授权不得商用。

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