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本发明公开了一种锡晶须生长的快速测试方法，包括以下步骤：设置待测样品的外界应力；对所述待测样品进行初检，确定所述待测样品中锡晶须的初始长度和初始密度；在设置的外界应力下，所述待测样品进行锡晶须生长；测量所述待测样品的锡晶须的长度和密度。本发...
该专利属于北京圣涛平试验工程技术研究院有限责任公司所有，仅供学习研究参考，未经过北京圣涛平试验工程技术研究院有限责任公司授权不得商用。

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