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一种SiP模块的电参数测试程序注入及多模测试实现方法技术
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文档序号:25706479
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本发明公开了SiP模块的电参数测试程序注入及多模测试实现方法,属于SiP模块测试领域。本发明的SiP模块的电参数测试程序注入及多模测试实现方法,在不增加测试步骤的情况下,通过修改SiP模块内存储器中的引导程序,在进行功能测试时依托引导固化于...
该专利属于西安微电子技术研究所所有,仅供学习研究参考,未经过西安微电子技术研究所授权不得商用。
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