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本发明提供了原位制备复杂结构样品中纳米级颗粒的TEM样品的方法，将样品置于双束电镜的样品腔中的样品台上，在样品台上安装铜网，密闭样品腔并抽真空，利用扫描电子显微镜功能观察样品的表面形态，找到感兴趣的纳米颗粒团簇区域，保持样品台处于水平状态，...
该专利属于中国科学院地球化学研究所;成都理工大学所有，仅供学习研究参考，未经过中国科学院地球化学研究所;成都理工大学授权不得商用。

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