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一种用于高反射率测量的计算机测控系统技术方案
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下载一种用于高反射率测量的计算机测控系统的技术资料
文档序号:2568774
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一种用于高反射率测量的计算机测控系统,包括:光源、空间滤波和望远系统、平凹高反镜、会聚透镜、探测器;其特征在于:还包括一个具有双输入、双输出功能的高速数据采集卡、计算机及相关测量软件;软件控制采集卡两输出通道同步输出方波信号,两输入通道分别...
该专利属于中国科学院光电技术研究所所有,仅供学习研究参考,未经过中国科学院光电技术研究所授权不得商用。
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