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用于在光学系统中测量反射模式显示器的绝对光产出量的方法技术方案
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下载用于在光学系统中测量反射模式显示器的绝对光产出量的方法的技术资料
文档序号:2567223
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一种在具有折返光径的光学系统中测量偏振调制反射型显示器绝对产出量的方法。其步骤包括在具有第一偏振光束分离器,和反射型显示器的折返光径中测量第一光强度,L#-[R]。第二光强度,L0,是通过采用以第二正交转动的偏振光束分离器来代替反射型显示器...
该专利属于3M创新有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过3M创新有限公司授权不得商用。
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