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本实用新型涉及一种用于太赫兹探测器件的引线座，属于太赫兹探测技术领域。包括样品托和上盖，所述样品托上开设中心孔，所述中心孔内固定透镜，所述样品托上设置PCB板，所述透镜露出于PCB板，所述透镜上平面设有太赫兹探测器件，所述PCB板与太赫兹探...
该专利属于江苏盖姆纳米材料科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过江苏盖姆纳米材料科技有限公司授权不得商用。

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