一种用于太赫兹探测器件的引线座制造技术

本实用新型专利技术涉及一种用于太赫兹探测器件的引线座，属于太赫兹探测技术领域。包括样品托和上盖，所述样品托上开设中心孔，所述中心孔内固定透镜，所述样品托上设置PCB板，所述透镜露出于PCB板，所述透镜上平面设有太赫兹探测器件，所述PCB板与太赫兹探测器件电连接，所述PCB板上设置接线柱，所述接线柱与测试电路电连接，所述上盖盖合于样品托。本申请利用样品托使得PCB板和超半球硅透镜集成设置，方便了太赫兹探测芯片的引线和封装，同时对太赫兹波进行了汇聚。PCB板上设置接线柱，在测试时，直接将测试电路与太赫兹芯片连接，进行太赫兹响应信号的收集。样品托和上盖的包裹结构起到屏蔽作用，可以有效保护太赫兹探测芯片，防止器件因静电而损坏。

【技术实现步骤摘要】
一种用于太赫兹探测器件的引线座
本技术涉及一种用于太赫兹探测器件的引线座，方便对太赫兹探测器件进行引线封装和响应测试，属于太赫兹探测

技术介绍
太赫兹波作为尚未大规模使用的一段电磁频谱资源，有着极为丰富的电磁波与物质间的相互作用效应，在安检成像、通信以及生物医学等诸多领域有着广阔的应用前景。发展室温、高速、高灵敏度的固态太赫兹探测器技术是太赫兹核心器件研究的重要方向之一。目前室温太赫兹探测器常用的结构是基于太赫兹天线耦合的场效应晶体管型太赫兹探测器，通过合理的太赫兹天线设计以及沟道材料选择，可以实现室温下对太赫兹波的高灵敏度探测。由于太赫兹源发射的太赫兹波为发散的、同时太赫兹响应信号强度很弱，对于制备好的太赫兹探测器件，在进行太赫兹响应测试以及太赫兹成像测试时，需要考虑如何设计太赫兹光路汇聚太赫兹波，以及如何连接测试电路收集太赫兹响应信号，因此导致无法像可见-红外光电探测一样直接使用探针台进行测试，需要对太赫兹探测器件进行引线封装，然后进行太赫兹响应的测试以及后续的太赫兹成像测试。因此，设计合适的引线座用于太赫兹响应测试以及后本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种用于太赫兹探测器件的引线座，其特征在于：包括样品托(1)和上盖(4)，所述样品托(1)上开设中心孔，所述中心孔内固定透镜(3)，所述样品托(1)上设置PCB板(2)，所述透镜(3)露出于PCB板(2)，所述透镜(3)上平面设有太赫兹探测器件，所述PCB板(2)与太赫兹探测器件电连接，所述PCB板(2)上设置接线柱(2.2)，所述接线柱(2.2)与测试电路电连接，所述上盖(4)盖合于样品托(1)。/n

【技术特征摘要】
1.一种用于太赫兹探测器件的引线座，其特征在于：包括样品托(1)和上盖(4)，所述样品托(1)上开设中心孔，所述中心孔内固定透镜(3)，所述样品托(1)上设置PCB板(2)，所述透镜(3)露出于PCB板(2)，所述透镜(3)上平面设有太赫兹探测器件，所述PCB板(2)与太赫兹探测器件电连接，所述PCB板(2)上设置接线柱(2.2)，所述接线柱(2.2)与测试电路电连接，所述上盖(4)盖合于样品托(1)。


2.根据权利要求1所述的一种用于太赫兹探测器件的引线座，其特征在于：所述中心...

【专利技术属性】
技术研发人员：张凯，沈文，董卓，许毅，
申请(专利权)人：江苏盖姆纳米材料科技有限公司，
类型：新型
国别省市：江苏;32